磁粉探伤依赖于缺陷处磁力线畸变产生的漏磁场来吸附磁粉,该方法不适用于检测延伸方向与磁力线方向夹角小于( )的缺陷。
10°
20°
30°
45°
磁粉探伤依赖于缺陷处磁力线畸变产生的漏磁场来吸附磁粉。当缺陷延伸方向与磁力线方向夹角小于20°时,磁力线几乎平行于缺陷通过,畸变极小,漏磁场微弱,导致缺陷难以被有效检出,因此该方法不适用于此类缺陷的检测。
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